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DIFRACTOMETRO DE RAYOS X EMMA
El difractómetro de Rayos X EMMA (Analizador de Mini-materiales) aunque de tamaño compacto ofrece grandes posibilidades al usuario.
El original diseño del EMMA incluye características tales como geometrías de enfoque y de haz paralelo intercambiables, radio variable, provisión para múltiples detectores, óptica intercambiable y muchos tipos de portamuestras.
OTRAS CARACTERISTICAS SON:
- Modo θ-θ para mantener un portamuestras horizontal esencial para cámaras de alta temperatura.
- Controlador a microprocesador que ofrece 8 ejes simultáneos y comunicación via ethernet. El EMMA tiene una dirección IP en una red y puede ser controlado por cualquier PC de dicha red o aún de internet con la restricción del ancho de banda y la cantidad de datos.
- Nuevos portamuestras para muestras grandes, pesadas y voluminosas además de centrifugado capilar y posibilidad de montaje para algunos portamuestras especiales fabricados por PAAR.
- Óptica del haz primario con características tales como: espejo con focal para los modos de transmisión y capilar.
- Las mejoras en el software incluyen la recalibración instantánea luego del intercambio de cualquier componente del haz (para XRD visual). Se incluyen integraciones con la última versión de la bases de datos ICDD PDF-2 y PDF-4.
Se ha hecho mucho trabajo en películas delgadas, análisis de superficies, perfiles en profundidad y reflectometría utilizando un detector de haz paralelo con una ranura de divergencia muy fina. Esto da resultados sorprendentes cuando se usa con el detector de diodo Si PIN refrigerado por efecto Peltier. Este detector tiene una sensibilidad 3 a 4 veces mayor que el detector proporcional Xe tradicional con un monocromador de cristal de grafito curvado.
Para opciones de intercambio rápido cada portamuestras, óptica y detector tiene su propia calibración y es de fácil ejecución. |
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SOFTWARE DE AUTOMATIZACION
Por supuesto ningún sistema de control de hardware está completo sin un software de control y de análisis de datos.
Ofrecemos dos paquetes de software de 32-bit que operan en ambiente Windows: Visual XRD y Traces.
El Visual XRD proporciona control del hardware del módulo de automatización 122D y del sistema XRD y permite la adquisición de datos. Dispone de todos los modos de barrido y de ajuste ayudado por la computadora.
Traces está diseñado para trabajar con datos reales y ofrece un sistema de análisis de datos con capacidades de búsqueda y comparación. Los formatos de los archivos son de acceso abierto, compatibles con los formatos ASCCI, lo que permite intercambiar datos con softwares alternativos.
Se dispone de paquetes de softwares complementarios para su integración con Traces. Estos son: DSearch, Siroquant, Index y Unit Cell. |
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FOLLETOS |
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Emma
Inglés |
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